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泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

  • 更新時(shí)間:2024-06-05
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泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀
CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀製造業,具有測量薄膜和厚膜的功能發展目標奮鬥。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法,來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位狀態。 這種新型的 CCI HD 整合了世界**的非接觸式尺寸測量功能和良好的厚薄膜測量技術(shù)規劃。

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品牌TaylorHobson/英國泰勒霍普森價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,航空航天,汽車及零部件

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀


一;HD適合用于制造和研究領(lǐng)域,可測量厚度至1.5微米的厚膜及厚度至50納米的薄膜涂層應用前景。

CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀指導,具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法兩個角度入手,來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位關註點。 這種新型的 CCI HD 整合了世界**的非接觸式尺寸測量功能和良好的厚薄膜測量技術(shù)。CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能進入當下,還可以提供兩種類型的膜厚測量建強保護。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料;測量的厚度限制取決于材料的折射率和標(biāo)的物的 NA首次。 測量較薄的涂層被證實(shí)為難度更高×鲃有?,F(xiàn)在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米(同樣取決于折射率)的薄膜涂層。 采用這種新型方法生產效率,可以在單次測量中研究膜厚反應能力、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性行業內卷。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.2048 x 2048像素陣列進行培訓,視場廣科普活動,高分辨率
2.全量程0.1埃的分辨率
3.適用于0.3% - 100%的表面反射率
4.<0.2?strom RMS重復(fù)性凝聚力量,<0.1%臺階高度重復(fù)性
5.多語言版本的64位控制和分析軟件
6.2.2 mm垂直范圍,帶閉環(huán)無壓電Z軸掃描儀
7.AutoStitch作為標(biāo)準(zhǔn)配置逐漸完善,可高分辨率測量大型零件

二:CCI MP-HS非常適合用于研究領(lǐng)域,從非常粗糙的表面到非常光滑的表面,任何類型的表面它都能測量了解情況,因而具備測量各種元件的能力參與能力。

無論測量的是何種元件,無論對分析速度的要求有多高資源優勢,我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果應用擴展。 一百萬高速相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無論是測量非常粗糙的表面振奮起來,還是測量非常光滑的表面建立和完善,都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。CCI MP-HS大大地?cái)U(kuò)展了分析能力增多,同時(shí)又不至于讓分析程序變得更復(fù)雜啟用。 您可以測量各種各樣的元件和表面,不需要進(jìn)行復(fù)雜的測量模式切換估算,也不會給中間透鏡的校準(zhǔn)增加額外的負(fù)擔(dān)活動上。 通過標(biāo)準(zhǔn)化的方法、程序和報(bào)告,CCI MP-HS可輕松地整合到您的質(zhì)量管理系統(tǒng)中大型。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.1048 x 1048像素陣列的可能性,視場廣,高分辨率
2.高級X不可缺少、Y尤為突出、Z拼接,擴(kuò)展量程
3.RMS重復(fù)精度<0.2 埃市場開拓,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
4.整合抗振標準,優(yōu)化抗噪性能
5.多語言版本的Windows,64位軟件

三:CCI MP 是一種多功能的非接觸式 3D 輪廓儀環境,可測量拋光表面主要抓手、粗糙表面、曲面重要的角色、平面或臺階面空間載體。

CCI MP是一種高級的測量干涉儀(非接觸式3D輪廓儀)。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法要落實好,來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位即將展開。CCI MP對于很多需要進(jìn)行高精度3D輪廓分析的應(yīng)用非常有用。 轉(zhuǎn)臺上可以同步裝配各種各樣的標(biāo)的物相對簡便,因而可測量多種類型的表面創新科技。 自動的工作臺和自動測量程序進(jìn)一步增強(qiáng)了測量的靈活性。CCI MP非接觸式3D輪廓儀的一個(gè)關(guān)鍵優(yōu)勢就是功能多特性、用途廣有很大提升空間。 反射率為0.3%至100%的拋光表面、粗糙表面、曲面認為、平面或臺階面,都能使用一種算法進(jìn)行測量國際要求,不需要為不同的表面改變模式紮實,也不用擔(dān)心會選擇錯(cuò)誤的模式。 可測量的材料類型包括: 玻璃新趨勢、液體墨水可能性更大、光刻膠、金屬保持競爭優勢、聚合物和糊劑真正做到。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.1048 x 1048像素陣列,視場廣方案,高分辨率
2.經(jīng)過改良的新型X追求卓越、Y、Z拼接,量程多達(dá)100毫米
3.RMS重復(fù)精度<0.2埃性能,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
4.全量程埃級分辨率
5.多語言版本的Windows 7,64位軟件



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