尼克斯7500測厚儀-QNix 7500操作說明

• 更新時間：2017-08-23
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尼克斯7500測厚儀-QNix 7500操作說明
QNix 7500儀器是在產(chǎn)品線上進(jìn)行無損測量的儀器深入各系統。采用良好的電子技術(shù)來實現(xiàn)復(fù)雜多變的測量任務(wù)數據，這種高精密度的儀器涵蓋廣泛的應(yīng)用重要意義，在過去每的實踐中我們得出它是堅固而且易用的服務機製，在正確的操作方法和維護(hù)下流程，儀器可以為您常年提供可靠且準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)。儀表保護(hù)：勿摔培訓，防灰防塵等特點，防濕防潮 遠(yuǎn)離化學(xué)品等有腐蝕性的物質(zhì)和氣體。

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尼克斯7500測厚儀-QNix 7500操作說明

QNix 7500儀器是在產(chǎn)品線上進(jìn)行無損測量的儀器。采用良好的電子技術(shù)來實現(xiàn)復(fù)雜多變的測量任務(wù)不合理波動，這種高精密度的儀器涵蓋廣泛的應(yīng)用建言直達，在過去每的實踐中我們得出它是堅固而且易用的，在正確的操作方法和維護(hù)下助力各業，儀器可以為您常年提供可靠且準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)精準調控。儀表保護(hù)：勿摔，防灰防塵建設應用，防濕防潮  遠(yuǎn)離化學(xué)品等有腐蝕性的物質(zhì)和氣體優化程度。

QNix®7500涂層厚度測量儀是具有廣泛應(yīng)用的組合儀表。 還有可選的具有內(nèi)存和統(tǒng)計功能的型號（QNix®7500 M）應用的因素之一。標(biāo)準(zhǔn)探頭的量程0-2000μm 或0-800mil（1mil=25基礎，4μm ） 所有探頭（包括直角探頭）的zui大量程式5000μm 。QNix 7500不具備儲存功能的儀器奮勇向前，可同時拉動兩邊開關(guān)實現(xiàn)測量單位之間的轉(zhuǎn)換引領作用。即在開機狀態(tài)下，同時向前推動兩邊開關(guān)并停留一秒以上經驗，此時單位發(fā)生轉(zhuǎn)換。儀器在儲存狀態(tài)工作時，可通過相應(yīng)的程序?qū)崿F(xiàn)單位的轉(zhuǎn)換敢於監督。

儀器描述：

儀表具有Fe探頭和NFe探頭對外開放。如果您想連接外接式探頭，請從儀器上拔下內(nèi)置探頭組建，然后把外部探頭通過適配電纜與儀器相連用的舒心。 
??Fe探頭用于測量鋼、鐵等金屬基體上的非磁性涂鍍層厚度高端化，例如：油漆全面展示、粉末涂層、塑料充分發揮、搪瓷服務、鉻、銅相互融合、鋅等選擇適用。 
??NFe探頭用于測量銅，鋁用上了，不銹鋼等非鐵磁性機體上的所有非導(dǎo)電層的厚度結構，如油漆、各種防腐涂層的特性，塑料競爭力所在、搪瓷等。 儀器還選配的程序軟件用計算機進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，也能通過連接迷你打印機同步打印測量結(jié)果先進的解決方案。

測量操作：

*測量方式：把儀器的探頭垂直放置在被測物體表面基礎，把拇指按在探頭上。測量數(shù)值會伴隨著BEE的一聲立即顯示出來研究進展。在鐵磁性探頭和非鐵磁性探頭也是相同的操作方式要素配置改革。 
模塊化系統(tǒng)使得7500儀表變得通用，F(xiàn)e溝通機製，Nfe和雙探頭*適配機身無障礙，可以通過探針電纜與儀器相連。如果必須使用外部探頭宣講活動，可以從儀器上拔下內(nèi)置探頭高產，把帶插座的適配電纜插入儀器，這樣就可以測量一般儀器到達(dá)不了的地方快速融入。特殊的探頭的識別系統(tǒng)會告訴你使用正確的探頭類型帶動產業發展。 
當(dāng)探頭的位置錯誤的時候，屏幕都會顯示“Err”（錯誤）發揮作用。如果在測量還未結(jié)束就把探頭離開被測物體，或探頭在非金屬基體上調(diào)零時，也會出現(xiàn)同樣的顯示十分落實。 
如果測量值超過量程或在非金屬基體測量時超量程勃勃生機，屏幕顯示INFI（超量程）。在非磁性基板上測量也會顯示INFI深入。 

雙探頭測量：

當(dāng)使用兩用探頭時形式，測量不同基體需要對磁性模式進(jìn)行轉(zhuǎn)換覆蓋範圍。在開機狀態(tài)下一站式服務，屏幕左邊顯示Fe和NFe。這時按住左下的按鈕C至少三秒前沿技術。聽到BEE的一聲新的菜單會顯示在屏幕上支撐作用。返回慘淡請按住C至少三秒。

可能顯示的信息：

1深入交流、   Fe = 在鋼或者鐵上測量

2解決、   Nfe = 在非磁性金屬上測量

3、   ERR = 操作錯誤 
4動力、   InFi = 使用錯誤基體不斷豐富，超量程

5、   BAT = 電池供電不足多種方式，更換新電池

6同時、   Bloc = 數(shù)據(jù)組編號的顯示

7、   End = 數(shù)據(jù)組內(nèi)存已滿 
8、   Prob =儀器開機但沒有連接探頭

9幅度、    Ae*** = 數(shù)據(jù)組中的平均值 
10技術創新、   a) N= 測量編號   b）（AE）N =數(shù)據(jù)組中測量值個數(shù)

11、   No = 當(dāng)前數(shù)據(jù)組中尚未存儲數(shù)據(jù)

12各有優勢、   П = 當(dāng)前數(shù)據(jù)組中所存數(shù)據(jù)的zui大值

13技術發展、   Ц = 當(dāng)前數(shù)據(jù)組中所存數(shù)據(jù)的zui小值