QNix 7500-尼克斯進(jìn)口測(cè)厚儀

• 更新時(shí)間：2017-08-22
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QNix 7500-尼克斯進(jìn)口測(cè)厚儀
QNix 7500的標(biāo)準(zhǔn)探頭的測(cè)量范圍為0-2000μm或0-80 mil（1 mil = 25.4μm）可選擇測(cè)量范圍高達(dá)5000μm（200 mil）和直角探頭的探頭發揮效力。QNix®7500以μm或mil為單位運(yùn)行先進技術。
根據(jù)目的地/地區(qū)創新的技術，裝運(yùn)單位預(yù)先運(yùn)送。 帶有存儲(chǔ)器QNix®7500 M的量規(guī)可以使用可選的軟件從μm切換到mil也逐步提升。

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QNix 7500-尼克斯進(jìn)口測(cè)厚儀

QNix 7500測(cè)厚儀

QNix 7500的標(biāo)準(zhǔn)探頭的測(cè)量范圍為0-2000μm或0-80 mil（1 mil = 25.4μm）可選擇測(cè)量范圍高達(dá)5000μm（200 mil）和直角探頭的探頭。QNix®7500以μm或mil為單位運(yùn)行。
根據(jù)目的地/地區(qū)組織了，裝運(yùn)單位預(yù)先運(yùn)送充足。 帶有存儲(chǔ)器QNix®7500 M的量規(guī)可以使用可選的軟件從μm切換到mil。

詳細(xì)介紹：

QNix®7500涂層厚度測(cè)量?jī)x是具有廣泛應(yīng)用的組合儀表表現。 可選地異常狀況，它具有內(nèi)存和統(tǒng)計(jì)功能（QNix®7500 M）QNix®7500涂層厚度測(cè)量計(jì)是非破壞性測(cè)量?jī)x器產(chǎn)品系列的一部分。為了將來(lái)而設(shè)計(jì)的積極性，這種模塊化系統(tǒng)測(cè)量?jī)x的特點(diǎn)是應(yīng)用范圍廣泛更多可能性，結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，已經(jīng)從我們其他儀表中得到了廣泛的認(rèn)可高效。 例如分析，可以使用集成探頭的QNix®7500作為單手操作規(guī)格，或使用連接電纜作為帶外部探頭的量規(guī)質量。 使用相應(yīng)的探針，儀器將測(cè)量鋼和鐵上的涂層或非磁性金屬基底（如鋁）上的涂層。

另外：QNix®涂層厚度測(cè)量?jī)x器的所有世界益處：
使用方便
無(wú)需校準(zhǔn)
測(cè)量精度高
持久的紅寶石測(cè)量頭
質(zhì)量“在德國(guó)制造不久前，具有3年制造商的保修

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量鋼緊迫性，鐵，鋁機構，鋅非常激烈，銅，黃銅
QNix®7500模塊化測(cè)量系統(tǒng)提供高達(dá)5000μm的移動(dòng)性多種場景，高測(cè)量精度科技實力，易于處理和不同尋常的應(yīng)用。 QNix®7500是一種特別小巧便利的測(cè)量?jī)x集中展示，用于對(duì)所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進(jìn)行非破壞性測(cè)量可靠保障。可以通過(guò)直接插入微型探頭或?qū)⑻筋^連接到插入的延長(zhǎng)電纜上使用改造層面。

只需放置閱讀機製。
通過(guò)簡(jiǎn)單的交換探頭，使QNix®7500適應(yīng)相應(yīng)的測(cè)量任務(wù)大面積“l力？梢允褂枚喾N可互換探頭。要更換探頭集成應用，只需拉出一個(gè)探針并插入另一個(gè)越來越重要的位置。然后立即開(kāi)始使用儀表。

簡(jiǎn)單和用戶友好
即使在其基本版本中迎來新的篇章，QNix®7500也配備了RS 232或USB接口解決方案，可將讀數(shù)在線傳輸?shù)絇C不負眾望。 盡管使用范圍非常廣泛，但QNix®7500特別小巧交流研討，方便推動並實現。 創(chuàng)新的霍爾傳感器技術(shù)使得可以在沒(méi)有復(fù)雜的控制鍵和按鈕的情況下設(shè)計(jì)此儀表。 像Nix自動(dòng)化博士所有的手持式測(cè)量?jī)x器一樣順滑地配合，QNix®7500的特點(diǎn)是操作異常簡(jiǎn)單更加完善，安全，測(cè)量精度高上高質量，便于使用和大容量存儲(chǔ)精準調控。 簡(jiǎn)單用戶友好

功能特點(diǎn)：
*零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零相對較高。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提信息化。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后發展需要，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移創新內容，確保準(zhǔn)確測(cè)量。
*無(wú)需校準(zhǔn)：多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外信息，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校實踐者。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校廣泛關註。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度豐富。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效顯示，增大系統(tǒng)誤差服務體系。
*溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差重要的作用。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)特點，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
*紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度搶抓機遇。普通金屬接觸探頭綠色化發展，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高結論。