EPK德國進(jìn)口MIKROTEST測厚儀影響精度因素

• 更新時間：2017-07-04
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EPK德國進(jìn)口MIKROTEST測厚儀影響精度因素
由于測厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后廣泛認同，在使用中不能再變動在此基礎上。所以規模最大，在實(shí)際使用中技術研究，可能會出現(xiàn)的一些影響測量精度的因素必須加以考慮是目前主流，并對測量結(jié)果進(jìn)行必要的修正。以獲得更準(zhǔn)確的讀值現場。
這些因素有：
a.鋼鐵基體的磁特性及光澤
b.基體金屬厚度：
c.邊緣效應(yīng)
d.曲率
e.覆蓋層的厚度
f.剩磁
g.磁場
h.地球重力

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EPK德國進(jìn)口MIKROTEST測厚儀影響精度因素

由于測厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后更多可能性，在使用中不能再變動。所以高效，在實(shí)際使用中分析，可能會出現(xiàn)的一些影響測量精度的因素必須加以考慮，并對測量結(jié)果進(jìn)行必要的修正質量。以獲得更準(zhǔn)確的讀值。這些因素有：

• a.鋼鐵基體的磁特性及光澤
• b.基體金屬厚度：

該儀器有一個基體zui小臨界厚度值。型號不同不久前、則這個厚度值不同緊迫性。請參考技術(shù)說明指標(biāo)。若厚度超過這一zui小臨界厚度值機構，測量值不受影響非常激烈。反之，則造成讀值偏高更適合。

• c.邊緣效應(yīng)

該測量方法對被測體邊界技術交流、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感引人註目。因此關註，在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。所以拓展，技術(shù)說明指標(biāo)指出了zui小測量面積提供堅實支撐。一定要測量則必須經(jīng)過校對驗(yàn)證。

• d.曲率

被測件的曲率對測量有影響，一般凸面可以造成測值偏大向好態勢，凹面則偏小相對簡便。盡管儀器設(shè)計對這方面有所補(bǔ)償。

• e.覆蓋層的厚度

測厚精度隨覆層厚度變化面變化更默契了。對于薄的覆層問題分析，其測量精度是一個常數(shù)，與覆層厚度無關(guān)解決方案；對于厚度的覆層不負眾望，其精度與覆層厚度近似成正比。

• f.剩磁

基體金屬的剩磁對 Mikrotest 測厚儀的測量結(jié)果會有影響交流研討。

• g.磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場會嚴(yán)重干擾儀器工作推動並實現。

• h.地球重力

Mikrotest 測厚儀測量讀數(shù)受測頭相對于地球重力方向影響。

EPK德國進(jìn)口MIKROTEST測厚儀影響精度因素：

修定

了解了以上幾項(xiàng)可能影響測量精度的因素順滑地配合，應(yīng)通過試測方法找到一個修正值
比較實(shí)用的方法如下：
在有以上情祝的沒有涂鍍層的被測件表面上先測幾次更加完善，找到一個平均初始值，然后在同樣條件的涂鍍層表面測取讀數(shù)后上高質量，減去這個初始值精準調控。
對于b項(xiàng)所列情況，還可以采取在基材下面緊貼一塊鐵板的方法來解決建設應用。

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MIKROTEST涂層測厚儀優化程度、測量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度（如漆、粉末涂層應用的因素之一、塑料基礎、鋅、銅奮勇向前、錫及鎳）引領作用。測量快速、經驗、無損，三十多年來MICROTEST 已成為被廣泛應(yīng)用的自動測定涂鍍層厚度的儀器。德國的“訣竅”說明它在工藝技術(shù)及精度方面敢於監督，具有磁性涂層測厚儀的zui高水準(zhǔn)對外開放。

技術(shù)參數(shù)：