高移動性粗糙度儀MAHR PERTHOMETER M2

• 更新時間：2017-07-03
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高移動性粗糙度儀MAHR PERTHOMETER M2
與Perthometer M1相比相貫通，該儀器不僅滿足了所選參數(shù)的確定和記錄要求，而且還使得DIN / ISO / JIS規(guī)定的大部分參數(shù)和特性曲線可用于評估輪廓的評估脫穎而出。
此外系統，Perthometer M2提供了一個集成的存儲器，用于多達(dá)200個測量結(jié)果積極影響，并能夠?qū)崿F(xiàn)容差監(jiān)測方法，垂直刻度選擇以及用于峰值計算計算的不對稱交叉線的設(shè)置。

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高移動性粗糙度儀MAHR PERTHOMETER M2

MAHR PERTHOMETER M2 

The Universal Standard Instrument ..  

Highly , high-performance surface roughness unit 

通用標(biāo)準(zhǔn)儀器

高移動性豐富，高性能表面粗糙度單位

典型特征 ：
●測量范圍可達(dá)150μm（6000μin）
●單位μm/μin可選
●標(biāo)準(zhǔn)：可選擇SIN / ISO / JIS和CNOMO（Motif）
●根據(jù)DIN EN ISO 4288 / ASME B461的運行長度：1.75mm，5.6mm 17.5mm（.07in，.22in善於監督，.7in）;根據(jù)EN ISO 12085：1mm大局，2mm，4mm數據，8mm效率和安，12mm，16mm
●采樣長度可選擇1到5
●自動選擇符合標(biāo)準(zhǔn)的過濾器和運行長度
●根據(jù)DIN EN ISO 11562的相位校正型材過濾器
●截止0.25mm / 0.80mm / 2.50mm（.010in / .032in邁出了重要的一步。/ 100in）
●可切斷短路
根據(jù)DIN / ISO / SEP的參數(shù)：Ra產能提升，Rz，Rmax品牌，Rp發展空間，Rq，Rt保持穩定，R3z就此掀開，Rk，Rvk，Rpk總之，Mr1，Mr2紮實做，Mr足了準備，Sm規模設備，RPc，按照J(rèn)IS：Ra穩步前行，Rz至關重要，Ry， Sm指導，S建設項目，tp;主題參數(shù)：R，Rx服務品質，Ar傳遞，W，CR過程，CF經過，CL（三區(qū)測量）
●顯示和測量記錄中的容差監(jiān)控
●自動或可調(diào)縮放
●印刷R型材（ISO / JIS），P型材（MOTIF）互動互補，材料比例曲線核心技術體系，測量記錄
●測量的輸出日期和/或時間
●集成內(nèi)存，zui多可達(dá)200??次測量
●動態(tài)拾音校準(zhǔn)
●阻止儀器設(shè)置力度，防止意外修改以及密碼保護(hù)的可能性
 
產(chǎn)品描述：

• 該儀器的操作基于經(jīng)過驗證的功能目錄新產品，可以非常容易地選擇諸如測量條件，語言和記錄內(nèi)容等儀器設(shè)置性能。因此建議，Perthometer M2提供了zui大的舒適性和靈活性優勢。
• 與Perthometer M1相比設計，該儀器不僅滿足了所選參數(shù)的確定和記錄要求，而且還使得DIN / ISO / JIS規(guī)定的大部分參數(shù)和特性曲線可用于評估輪廓的評估品率。
• 此外善謀新篇，Perthometer M2提供了一個集成的存儲器，用于多達(dá)200個測量結(jié)果開展面對面，并能夠?qū)崿F(xiàn)容差監(jiān)測供給，垂直刻度選擇以及用于峰值計算計算的不對稱交叉線的設(shè)置。

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