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產(chǎn)品中心
| 品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理重要的意義，可高精度測量表面形貌集成、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸，并計(jì)算關(guān)鍵部位的面積和體積關註度。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器件，半導(dǎo)體器件，光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域穩中求進。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術(shù)橫向協同。創(chuàng)新的**相關(guān)相干算法，通過建立模板再獲，能夠計(jì)算出帶光源相干峰與相位的位置穩定性。無論是拋光表面還是粗糙表面，只要反射率超過 0.5%，就能夠被檢測資源優勢。在非接觸表面三維測量中提供了有力支撐，CCI2000以100μm范圍內(nèi)0.1nm的高分辨帶來不凡的立體成像效果。
高精度活動、低噪音、百萬數(shù)據(jù)點(diǎn)、數(shù)字技術(shù)還不大，泰勒霍普森公司白光干涉儀的問世好宣講，宣告著微 觀世界表面三維形貌時(shí)代到來。對于光學(xué)保障性、半導(dǎo)體不斷進步、微納米機(jī)械、汽車領先水平、醫(yī)藥認為、軸承等工業(yè) 而言，如果您需要非接觸的方法來檢測物體的三維表面形貌效率、表面粗糙度良好、臺(tái)階高度、微觀 三維尺寸增強，CCI2000 提供了完美的側(cè)向精度倍增效應、納米級(jí)的分辨率、非接觸測量戰略布局、三維形貌顯示重要意義， 是您理想的選擇。每當(dāng)需要進(jìn)行非接觸式高精度計(jì)量的理想方法來進(jìn)行粗糙度講道理，臺(tái)階高度或微觀尺寸測量時(shí)引領，泰勒·霍普森（Taylor Hobson）都能提供您期望的結(jié)果。 Talysurf CCI 2000具有寬的橫向范圍和埃分辨率更加廣闊，可為光學(xué)優化服務策略，MEMS，半導(dǎo)體試驗，汽車規模，醫(yī)療和軸承行業(yè)的研究和制造提供無損3D測量。
數(shù)據(jù)分析工具
新格局。 以新參數(shù)定義的二維及三維數(shù)據(jù)顯示。
開展攻關合作。 面積與體積參數(shù)
特點。 二維參數(shù) 120 個(gè)
。 三維參數(shù) 40 個(gè)
。 數(shù)據(jù)處理
用的舒心。 自動(dòng)的臺(tái)階高度計(jì)算
可溯源的結(jié)果
結構。 我們采用可以溯源的樣塊，對側(cè)面方向與垂直方向進(jìn)行標(biāo)定模式。
效果較好。 對于我們所測量的幾何的，空間的各種數(shù)據(jù)貢獻，都可以得到認(rèn)證廣泛應用。
關(guān)鍵特性：
1.0Å垂直分辨率
2.0Å底噪
1,000,000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)
0.1ÅRMS重復(fù)精度
0.1％步重復(fù)性
