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產(chǎn)品中心
| 品牌 | TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品種類(lèi) | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車(chē)及零部件 |
Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理領先水平，可高精度測(cè)量表面形貌認為、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸，并計(jì)算關(guān)鍵部位的面積和體積效率。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器件良好，半導(dǎo)體器件雙重提升，光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術(shù)倍增效應。創(chuàng)新的**相關(guān)相干算法結果，通過(guò)建立模板，能夠計(jì)算出帶光源相干峰與相位的位置重要意義。無(wú)論是拋光表面還是粗糙表面規則製定，只要反射率超過(guò) 0.5%，就能夠被檢測(cè)引領。在非接觸表面三維測(cè)量中表現明顯更佳，CCI2000以100μm范圍內(nèi)0.1nm的高分辨帶來(lái)不凡的立體成像效果。
高精度優化服務策略、低噪音性能穩定、百萬(wàn)數(shù)據(jù)點(diǎn)、數(shù)字技術(shù)規模，泰勒霍普森公司白光干涉儀的問(wèn)世，宣告著微 觀世界表面三維形貌時(shí)代到來(lái)新格局。對(duì)于光學(xué)作用、半導(dǎo)體、微納米機(jī)械特點、汽車(chē)、醫(yī)藥、軸承等工業(yè) 而言製度保障，如果您需要非接觸的方法來(lái)檢測(cè)物體的三維表面形貌聯動、表面粗糙度、臺(tái)階高度顯示、微觀 三維尺寸技術特點，CCI2000 提供了完美的側(cè)向精度、納米級(jí)的分辨率貢獻、非接觸測(cè)量廣泛應用、三維形貌顯示， 是您理想的選擇持續。每當(dāng)需要進(jìn)行非接觸式高精度計(jì)量的理想方法來(lái)進(jìn)行粗糙度情況，臺(tái)階高度或微觀尺寸測(cè)量時(shí)，泰勒·霍普森（Taylor Hobson）都能提供您期望的結(jié)果高品質。 Talysurf CCI 2000具有寬的橫向范圍和埃分辨率等多個領域，可為光學(xué)，MEMS統籌，半導(dǎo)體哪些領域，汽車(chē)，醫(yī)療和軸承行業(yè)的研究和制造提供無(wú)損3D測(cè)量。
數(shù)據(jù)分析工具
研究與應用。 以新參數(shù)定義的二維及三維數(shù)據(jù)顯示適應性。
。 面積與體積參數(shù)
有效保障。 二維參數(shù) 120 個(gè)
激發創作。 三維參數(shù) 40 個(gè)
。 數(shù)據(jù)處理
稍有不慎。 自動(dòng)的臺(tái)階高度計(jì)算
可溯源的結(jié)果
探索。 我們采用可以溯源的樣塊，對(duì)側(cè)面方向與垂直方向進(jìn)行標(biāo)定全面協議。
重要作用。 對(duì)于我們所測(cè)量的幾何的，空間的各種數(shù)據(jù)講實踐，都可以得到認(rèn)證增幅最大。
關(guān)鍵特性：
1.0Å垂直分辨率
2.0Å底噪
1,000,000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)
0.1ÅRMS重復(fù)精度
0.1％步重復(fù)性
