泰勒霍普森Talysurf CCI2000白光三維輪廓儀

• 更新時(shí)間：2020-12-01
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泰勒霍普森Talysurf CCI2000白光三維輪廓儀
對于光學(xué)、半導(dǎo)體前來體驗、微納米機(jī)械、汽車實現了超越、醫(yī)藥發揮重要帶動作用、軸承等工業(yè) 而言，如果您需要非接觸的方法來檢測物體的三維表面形貌推動並實現、表面粗糙度、臺階高度、微觀 三維尺寸更加完善，CCI2000 提供了完美的側(cè)向精度薄弱點、納米級的分辨率、非接觸測量精準調控、三維形貌顯示效高， 是您理想的選擇。

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泰勒霍普森Talysurf CCI2000白光三維輪廓儀

Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理優化程度，可高精度測量表面形貌廣度和深度、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸，并計(jì)算關(guān)鍵部位的面積和體積基礎。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲器件日漸深入，半導(dǎo)體器件，光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域引領作用。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術(shù)預期。創(chuàng)新的**相關(guān)相干算法，通過建立模板，能夠計(jì)算出帶光源相干峰與相位的位置加強宣傳。無論是拋光表面還是粗糙表面，只要反射率超過 0.5%大局，就能夠被檢測豐富內涵。在非接觸表面三維測量中數據，CCI2000以100μm范圍內(nèi)0.1nm的高分辨帶來不凡的立體成像效果。

泰勒霍普森Talysurf CCI2000白光三維輪廓儀

高精度就能壓製、低噪音邁出了重要的一步、百萬數(shù)據(jù)點(diǎn)、數(shù)字技術(shù)發揮，泰勒霍普森公司白光干涉儀的問世品牌，宣告著微 觀世界表面三維形貌時(shí)代到來。對于光學(xué)設施、半導(dǎo)體節點、微納米機(jī)械、汽車要求、醫(yī)藥、軸承等工業(yè) 而言，如果您需要非接觸的方法來檢測物體的三維表面形貌適應性強、表面粗糙度的特性、臺階高度、微觀 三維尺寸能力建設，CCI2000 提供了完美的側(cè)向精度高效、納米級的分辨率、非接觸測量基礎、三維形貌顯示領域， 是您理想的選擇。每當(dāng)需要進(jìn)行非接觸式高精度計(jì)量的理想方法來進(jìn)行粗糙度要素配置改革，臺階高度或微觀尺寸測量時(shí)，泰勒·霍普森（Taylor Hobson）都能提供您期望的結(jié)果。 Talysurf CCI 2000具有寬的橫向范圍和埃分辨率設計標準，可為光學(xué)深度，MEMS，半導(dǎo)體經過，汽車帶來全新智能，醫(yī)療和軸承行業(yè)的研究和制造提供無損3D測量。

數(shù)據(jù)分析工具 

核心技術體系。 以新參數(shù)定義的二維及三維數(shù)據(jù)顯示自主研發。 
。 面積與體積參數(shù) 
新產品。 二維參數(shù) 120 個(gè) 
意向。 三維參數(shù) 40 個(gè) 
。 數(shù)據(jù)處理 
更加廣闊。 自動的臺階高度計(jì)算

可溯源的結(jié)果

系統性。 我們采用可以溯源的樣塊合作，對側(cè)面方向與垂直方向進(jìn)行標(biāo)定。 
損耗。 對于我們所測量的幾何的勇探新路，空間的各種數(shù)據(jù)，都可以得到認(rèn)證形式。

篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)代理英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀擴大、輪廓儀、圓度儀深入交流、圓柱度儀等解決，篤摯技術(shù)服務(wù)部與匯聚**資源的合作品牌一起，以共同對計(jì)量及試驗(yàn)技術(shù)的專注和專業(yè)動力，致力于在質(zhì)量檢測領(lǐng)域不斷豐富，為客戶提供區(qū)域化和**化的廣泛而**的技術(shù)支持服務(wù)，確保操作和維護(hù)儀器的總體有效性和成本優(yōu)化影響力範圍，增強(qiáng)您測量和檢測的可靠性和性能大力發展。歡迎留言或電話咨詢，或進(jìn)入篤摯網(wǎng)上儀器展廳瀏覽更多便攜式粗糙度儀Surtronic DUO和Surtronic 25的詳情雙向互動。