泰勒霍普森Talysurf CCI2000白光三維輪廓儀

• 更新時間：2020-12-01
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泰勒霍普森Talysurf CCI2000白光三維輪廓儀
對于光學更優質、半導體穩定、微納米機械便利性、汽車、醫(yī)藥不折不扣、軸承等工業(yè) 而言占，如果您需要非接觸的方法來檢測物體的三維表面形貌、表面粗糙度成效與經驗、臺階高度更讓我明白了、微觀 三維尺寸，CCI2000 提供了完美的側向精度提供了有力支撐、納米級的分辨率飛躍、非接觸測量、三維形貌顯示積極， 是您理想的選擇大數據。

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泰勒霍普森Talysurf CCI2000白光三維輪廓儀

Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理，可高精度測量表面形貌經驗、表面粗糙度及關鍵尺寸，并計算關鍵部位的面積和體積。主要應用于數(shù)據(jù)存儲器件進一步意見，半導體器件重要部署，光學加工以及MEMS/MOEMS技術以及材料分析領域。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術產業。創(chuàng)新的**相關相干算法數字技術，通過建立模板，能夠計算出帶光源相干峰與相位的位置工具。無論是拋光表面還是粗糙表面尤為突出，只要反射率超過 0.5%，就能夠被檢測市場開拓。在非接觸表面三維測量中標準，CCI2000以100μm范圍內0.1nm的高分辨帶來不凡的立體成像效果。

泰勒霍普森Talysurf CCI2000白光三維輪廓儀

高精度環境、低噪音主要抓手、百萬數(shù)據(jù)點、數(shù)字技術單產提升，泰勒霍普森公司白光干涉儀的問世求索，宣告著微 觀世界表面三維形貌時代到來。對于光學多樣性、半導體性能穩定、微納米機械、汽車規模、醫(yī)藥數字化、軸承等工業(yè) 而言新格局，如果您需要非接觸的方法來檢測物體的三維表面形貌、表面粗糙度開展攻關合作、臺階高度特點、微觀 三維尺寸，CCI2000 提供了完美的側向精度情況正常、納米級的分辨率製度保障、非接觸測量、三維形貌顯示各領域， 是您理想的選擇顯示。每當需要進行非接觸式高精度計量的理想方法來進行粗糙度，臺階高度或微觀尺寸測量時的有效手段，泰勒·霍普森（Taylor Hobson）都能提供您期望的結果共同努力。 Talysurf CCI 2000具有寬的橫向范圍和埃分辨率，可為光學真正做到，MEMS發展邏輯，半導體，汽車追求卓越，醫(yī)療和軸承行業(yè)的研究和制造提供無損3D測量發展機遇。

數(shù)據(jù)分析工具 

。 以新參數(shù)定義的二維及三維數(shù)據(jù)顯示舉行。 
。 面積與體積參數(shù) 
不容忽視。 二維參數(shù) 120 個 
習慣。 三維參數(shù) 40 個 
。 數(shù)據(jù)處理 
組建。 自動的臺階高度計算

可溯源的結果

覆蓋。 我們采用可以溯源的樣塊，對側面方向與垂直方向進行標定有效保障。 
激發創作。 對于我們所測量的幾何的，空間的各種數(shù)據(jù)稍有不慎，都可以得到認證探索。

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