Perthometer M1粗糙度儀又叫表面粗糙度儀敢於挑戰、表面光潔度儀問題、表面粗糙度檢測(cè)儀、粗糙度測(cè)量?jī)x解決方案、粗糙度計(jì)大幅拓展、粗糙度測(cè)試儀等多種名稱相結合，糙度儀從測(cè)量原理上主要分為兩大類：接觸式和非接觸式，接觸式粗糙度儀主要是主機(jī)和傳感器的形式，非接觸式粗糙度儀主要是光學(xué)原理例如激光表面粗糙度儀效果較好。
　　隨著工業(yè)的發(fā)展和對(duì)外開(kāi)放與技術(shù)合作的需要集聚效應，我國(guó)對(duì)Perthometer M1粗糙度儀表面粗糙度的研究和標(biāo)準(zhǔn)化愈來(lái)愈被科技和工業(yè)界所重視，為迅速改變國(guó)內(nèi)表面粗糙度方面的術(shù)語(yǔ)和概念不統(tǒng)一的局面廣泛應用，并達(dá)到與統(tǒng)一的作用提升，我國(guó)等效采用標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)制訂了《表面粗糙度術(shù)語(yǔ)表面及其參數(shù)》持續。專門(mén)對(duì)有關(guān)表面粗糙度的表面及其參數(shù)等術(shù)語(yǔ)作了規(guī)定，其中有三個(gè)部分共27個(gè)參數(shù)術(shù)語(yǔ)：
　　1.與微觀不平度高度特性有關(guān)的表面粗糙度參數(shù)術(shù)語(yǔ)。其中定義的常用術(shù)語(yǔ)為：輪廓算術(shù)平均偏差Ra高品質、輪廓均方根偏差Rq、輪廓zui大高度Ry和微觀不平度十點(diǎn)高度Rz等11個(gè)參數(shù)互動講。
　　2.與微觀不平度間距特性有關(guān)的表面粗糙度參數(shù)術(shù)語(yǔ)統籌。其中有輪廓微觀不平度的平均間距Sm、輪廓峰密度D支撐能力、輪廓均方根波長(zhǎng)lq以及輪廓的單峰平均間距S等共9個(gè)參數(shù)產品和服務。
　　3.與微觀不平度形狀特性有關(guān)的表面粗糙度參數(shù)術(shù)語(yǔ)。這其中有輪廓偏斜度Sk協同控製、輪廓均方根斜率Dq和輪廓支承長(zhǎng)度率tp等共5個(gè)參數(shù)不斷創新。