CMI243涂層測厚儀性能好

概述：

牛津儀器的CMI243型號是專為金屬加工機設計的靈活易用的系統。 CMI243型號只需要一個探頭來測量含鐵基底上的金屬涂層 - 即使是小的，異型的或粗糙的表面服務好。 該量規(guī)適用于緊固件不斷完善。 該手持式儀器使用相位敏感的渦流技術結果，具有與X射線熒光設備相當的和的用戶友好的控制和測量積極回應。 為了實現較低的總擁有成本管理，CMI243消除了對多個探頭發揮重要作用，校準標準自行開發，操作員培訓和持續(xù)維護的需求。 牛津儀器提供可靠的質量取得顯著成效，并與客戶服務團隊緊密結合在一起處理方法。 除了其價值，測量儀還具有1年的保修期責任。

測量技術
新的相敏渦流技術使CMI243應用能夠達到±1％的精度（參考標準）服務，精度在0.3％以內。 剝離方法持續向好，如磁感應和常規(guī)渦流舉行，由于產生的基礎效應和樣品形狀和紋理的干擾，不能獲得可靠的讀數不容忽視。 牛津儀器渦流技術的*應用使基礎效果zui小化習慣，使得測量與組件幾何無關。 更重要的是組建，無需在裸機上進行校準覆蓋。

ECP-m探頭
ECP-m探頭專為難加工金屬涂層而設計服務體系。 這種單個探針可以在含鐵基底上測量金屬涂層，如鋅重要的作用，鎳特點，銅，鉻或鎘搶抓機遇。 小可以輕松測量小綠色化發展，奇數或粗糙的測量。

CMI243軟件包包括：
CMI243手持式儀器
ECP-m帶可移動導軌的探頭
RS232串口線
鋅校準標準
SMP-1（磁性探頭）可以單獨購買

技術參數：

是一款專門為測量磁性金屬上的 ( 如鋅左右、鎳等 ) 涂鍍層厚度而設計的便攜式膜厚儀。*的渦電流測試方法使測量更的過程中。同類進口產品中具有很高的價格性能比 物聯與互聯。配置的測量探頭對細小的零件也可以測量。它具有 X 射線熒光的測量精度範圍和領域，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞取得了一定進展。CMI243涂層測厚儀在設計上更加合理、可靠、實用有所增加。
涂層測厚儀CMI243可無損、測量各種金屬涂鍍層厚度促進進步，如：鋅/鐵供給、鎳/鐵、鉻/鐵更高要求、鎘/鐵積極參與、銅/鐵等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc），包括緊固件經驗分享、螺絲探討、汽車部件、齒輪培養、管件等表面電鍍層共創美好。